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AOI 系統(tǒng)又一新技術(shù)突破！

更新時(shí)間：2011-08-06 09:58:00 閱讀：968

繼之前半導(dǎo)體E-mapping 系統(tǒng)完成后， 中方精密量測(cè)研發(fā)小組開發(fā)完成針對(duì)Wafer 切割道與道幅量測(cè)的 AOI 系統(tǒng) , 從 MES Link Lot. Wafer No. 到自動(dòng)送Wafer進(jìn)入量測(cè)機(jī)臺(tái)與自動(dòng)偵測(cè)道幅量測(cè)AOI 一氣呵成！是封裝測(cè)試少量多樣的最佳選擇！該技術(shù)可延伸應(yīng)用于面板玻璃切割或PCB板。

詳情請(qǐng)撥中方科技臺(tái)北總公司0914-168166項(xiàng)目經(jīng)理邱培其先生。

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